Справочник Пользователя для Intel IXD1110

24

Document Number: 250807

Revision Number: 003

Revision Date:  June 27, 2003

The unused test points are for internal testing only and are not designed for evaluation of the 
IXF1110 device. 

 provides a list of the unused test points.

J29

J29, J30, 31, J32, J33, J34, and TP1 are not 
designated for IXF1110 evaluation

J30

J31

J32

J33

J34

TP1