Справочник Пользователя для Lucent Technologies R5SI

Issue 1

April 1997

Maintenance Object Repair Procedures 

Page 10-872

MEM-BD (Memory) 

This test is a nondestructive test. This test determines if the parity circuitry is 
working. Accordingly, the test determines if parity errors can be detected. The 
parity circuitry is used to detect DRAM memory failures.

This test ensures that every DRAM memory location can be accessed and 
changed independently. Running this test wipes out all data in DRAM memory. 
This test is performed during a 

 or 

. If the test fails 

during a 

 command, refer to the "Procedure for SPE-Down Mode" 

section of 

, for the recommended 

maintenance strategy.

1029 
2014 
2015 
2016 
2017 
2018 
2020 
2022 
2024 
2025 
2051

ABORT

Refer to “STBY-SPE” for a description of these error codes.

FAIL

The system may or may not continue to operate correctly. The system may 
fail later when some action requires access to the corrupted area of the 
Text.

2. For a 386 system, the flash ROM should be reprogrammed by 

3. the 

 command. The memory card should contain the 

same vintage software that is currently in the system. Refer to the 
"Software Upgrade" section in 

2058

FAIL

.

PASS

The checksum is correct.