Справочник Пользователя для Lucent Technologies R5SI

Issue 1

April 1997

Maintenance Object Repair Procedures 

Page 10-1167

PR-MEM (TN790 RISC Memory) 

c. Aux Data of 100 is an LMM Flash Checksum initialization failure.

d. There are Functional Memory Test errors against the Processor circuit 

pack. This test is run only on the Standby SPE in a High or Critical 
Reliability system. On other systems or on the Active SPE, the test is run 
only via a 

 command or a 

 command.

Always investigate errors in the order in which they are presented in the table that 
follows when you are inspecting errors in the system. By clearing error codes 
associated with the 

Read All Memory Test,

 for example, you may also clear 

errors generated from other tests in the testing sequence.

1.

D = Destructive; ND = Nondestructive

Processor Cache Test (#895)(a)

X

ND

Processor Cache Audit (#896)(a)

X

X

ND

Processor Bus Time-out Exception Test (#82)(a)

X

X

ND

Processor BOOTPROM Checksum Test (#897)(a)

X

X

ND

Processor Write Buffer Test (#900)(a)

X

X

ND

Memory Burst Read Test (#908)

X

X

ND

Read All Memory Test (#85)

X

ND

Memory Parity Error Detection Test (#87)

X

X

ND

Flash Memory Checksum Test (#86)

X

ND

Memory Functional Test (#332) (b)

X

D

MTP Outpulse Relay Test (#102) (c)

X

X

ND

MTP External Modem Present Test (#230) (c)

X

X

ND

MTP Analog Loop Around Test (#103) (c)

X

X

ND

MTP Sanity Handshake Test (#106) (c)

X

X

ND

MTP SAT Loop Around Test (#228) (c)

X

X

ND

MTP Aux Loop Around Test (#229) (c)

X

X

ND

MTP Reset Test (#101) (c)

X

D

MTP Dual Port Ram Test (#104) (c)

X

D