Справочник Пользователя для Metrel MI 3122VDE-tester VDE 0100 20991539
Модели
20991539
Strona 4 z 60
Dystrybucja Conrad Electronic Sp. z o.o., ul. Kniaźnina 12, 31-637 Kraków, Polska
Copyright © Conrad Electronic 2015, Kopiowanie, rozpowszechnianie, zmiany bez zgody zabronione.
www.conrad.pl
www.conrad.pl
6.1 Organizacja pamięci……………………………………………………………………………………….. 43
6.2 Struktura danych……………………………………………………………………………………………. 43
6.3 Przechowywanie wyników testów………………………………………………………………….. 44
6.4 Przywracanie wyników testów………………………………………………………………………. 45
6.5 Czyszczenie przechowywanych danych………………………………………………………….. 46
6.2 Struktura danych……………………………………………………………………………………………. 43
6.3 Przechowywanie wyników testów………………………………………………………………….. 44
6.4 Przywracanie wyników testów………………………………………………………………………. 45
6.5 Czyszczenie przechowywanych danych………………………………………………………….. 46
6.5.1 Czyszczenie pełnej zawartości pamięci………………………………………. 46
6.5.2 Czyszczenie pomiaru w wybranej lokalizacji………………………………. 47
6.5.3 Czyszczenie indywidualnych pomiarów………………………………………. 47
6.5.2 Czyszczenie pomiaru w wybranej lokalizacji………………………………. 47
6.5.3 Czyszczenie indywidualnych pomiarów………………………………………. 47
6.6 Komunikacja…………………………………………………………………………………………………... 49
7. Konserwacja…………………………………………………………………………………………………………… 50
7.1 Czyszczenie……………………………………………………………………………………………………… 50
7.2 Okresowa kalibracja…………………………………………………………………………………………. 50
7.3 Serwisowanie…………………………………………………………………………………………………… 50
7.2 Okresowa kalibracja…………………………………………………………………………………………. 50
7.3 Serwisowanie…………………………………………………………………………………………………… 50
8. Specyfikacja techniczna……………………………………………………………………………………………. 51
8.1 Testowanie RCD………………………………………………………………………………………………. 51
8.1.1 Dane ogólne………………………………………………………………………………… 51
8.1.2 Napięcie styku RCD-Uc………………………………………………………………… 51
8.1.3 Trip-out time………………………………………………………………………………. 52
8.1.4 Trip-out current………………………………………………………………………….. 52
8.1.2 Napięcie styku RCD-Uc………………………………………………………………… 51
8.1.3 Trip-out time………………………………………………………………………………. 52
8.1.4 Trip-out current………………………………………………………………………….. 52
8.2 Impedancja zwarcia i potencjalny prąd zwarcia………………………………………………. 53
8.2.1 Brak odłączenia urządzenia lub wybrany FUSE…………………………….. 53
8.2.2 Wybrane RCD……………………………………………………………………………… 53
8.2.2 Wybrane RCD……………………………………………………………………………… 53
8.3 Impedancja linii i potencjalny prąd zwarcia……………………………………………………. 54
8.4 Napięcie, częstotliwość i rotacja faz……………………………………………………………….. 54
8.4 Napięcie, częstotliwość i rotacja faz……………………………………………………………….. 54
8.4.1 Rotacja faz………………………………………………………………………………….. 54
8.4.2 Napięcie…………………………………………………………………………………….. 54
8.4.3 Częstotliwość……………………………………………………………………………… 54
8.4.2 Napięcie…………………………………………………………………………………….. 54
8.4.3 Częstotliwość……………………………………………………………………………… 54
8.5 Monitor napięcia terminala……………………………………………………………………………. 54
8.6 Dane ogólne…………………………………………………………………………………………………… 55
8.6 Dane ogólne…………………………………………………………………………………………………… 55
A. Apendyks A – Tabela bezpieczników………………………………………………………………………. 56
A.1 Tabela bezpieczników – IPSC…………………………………………………………………………. 56
A.2 Tabela bezpieczników – impedancje (UK)………………………………………………………. 58
A.2 Tabela bezpieczników – impedancje (UK)………………………………………………………. 58
B. Apendyks B – Akcesoria do konkretnych pomiarów………………………………………………… 60