Lucent Technologies R5SI 用户手册

Issue 1

April 1997

Maintenance Object Repair Procedures 

Page 10-252

CARD-MEM (Memory Card) 

This test, which is nondestructive, verifies the integrity of the translation file stored 
in the memory card by reading (without any PREC updates) the translation file 
from the memory card and by then performing a checksum error checking. The 
calculated checksum value is compared with the recorded checksum value in 
the translation file. If these two values are different, this indicates that the 
translation file is corrupted.

2117

ABORT

No translation file has been saved onto the memory card.

1. Enter the 

 command, and verify that the translations are 

saved onto the memory card successfully.

2. Retry the command at 1-minute intervals a maximum of 5 times.

104

FAIL

Directories on the memory card are corrupted and cannot be recovered.

105

FAIL

"0" cannot be written into memory before an erase operation.

106

FAIL

Memory card cannot be erased.

107

FAIL

Data cannot be written onto a memory card after an erasure.

1. Replace the memory card and re-run the test.

108

FAIL

12 volt power supply for the Memory Card Erase/Write/Read Test can’t be 
turned on. The 12 volt power supply on TN777B NETCON circuit pack may 
be defective.

1. Re-enter the 

 command, and verify the result of Test 701 

for the 12 Volt Power Supply.

2. If Test 701 fails, follow the Standard Repair Procedure to replace the 

TN777B NETCON circuit pack with a new TN777B circuit pack.

3. Retry the command a 1-minute intervals a maximum of 5 times.