Texas Instruments Evaluation Board for the LP3878-ADJ LP3878-ADJEVAL/NOPB LP3878-ADJEVAL/NOPB 数据表

产品代码
LP3878-ADJEVAL/NOPB
下载
页码 21
SNVS311B – MAY 2005 – REVISED APRIL 2013
LP3878-ADJ Micropower 800mA Low Noise "Ceramic Stable" Adjustable Voltage
Regulator for 1V to 5V Applications
Check for Samples:
1
FEATURES
DESCRIPTION
The LP3878-ADJ is an 800 mA adjustable output
23
1.0V to 5.5V Output
voltage
regulator
designed
to
provide
high
Designed for Use with Low ESR Ceramic
performance and low noise in applications requiring
Capacitors
output voltages as low as 1.0V.
Very Low Output Noise
Using an optimized VIP™ (Vertically Integrated PNP)
8 Lead SO PowerPAD and WSON Surface
process,
the
LP3878-ADJ
delivers
superior
Mount Package
performance:
<10
μ
A Quiescent Current in Shutdown
Ground Pin Current: Typically 5.5 mA @ 800 mA
Low Ground Pin Current at all Loads
load, and 180 µA @ 100 µA load.
Over-Temperature/Oover-Current Protection
Low Power Shutdown: The LP3878-ADJ draws less
-40°C to +125°C Operating Junction
than 10
μ
A quiescent current when shutdown pin is
pulled low.
Temperature Range
Precision Output: Ensured output voltage accuracy
APPLICATIONS
is 1% at room temperature.
ASIC Power Supplies In:
Low Noise: Broadband output noise is only 18
μ
V
Desktops, Notebooks and Graphic Cards
(typical) with 10 nF bypass capacitor.
Set Top Boxes, Printers and Copiers
DSP and FPGA Power Supplies
SMPS Post-Regulator
Medical Instrumentation
1
Please be aware that an important notice concerning availability, standard warranty, and use in critical applications of
Texas Instruments semiconductor products and disclaimers thereto appears at the end of this data sheet.
2
VIP is a trademark of Texas Instruments.
3
All other trademarks are the property of their respective owners.
PRODUCTION DATA information is current as of publication date.
Copyright © 2005–2013, Texas Instruments Incorporated
Products conform to specifications per the terms of the Texas
Instruments standard warranty. Production processing does not
necessarily include testing of all parameters.