Texas Instruments IC MCU 16B MSP430F2416TPM LQFP-64 TID MSP430F2416TPM 数据表

产品代码
MSP430F2416TPM
下载
页码 103
C
VREF+
1 µF
0
1 ms
10 ms
100 ms
t
REFON
t
REFON
≈ .66 x C
VREF+
[ms]  with C
VREF+
in µF
100 µF
10 µF
MSP430F261x
MSP430F241x
SLAS541K – JUNE 2007 – REVISED NOVEMBER 2012
12-Bit ADC Built-In Reference
over recommended operating free-air temperature range (unless otherwise noted)
PARAMETER
TEST CONDITIONS
T
A
V
CC
MIN
NOM
MAX
UNIT
-40°C to 85°C
2.4
2.5
2.6
REF2_5V = 1 for 2.5 V,
3 V
Positive built-in
I
VREF+
max
I
VREF+
I
VREF+
min
105°C
2.37
2.5
2.64
V
REF+
reference voltage
V
-40°C to 85°C
1.44
1.5
1.56
REF2_5V = 0 for 1.5 V,
output
2.2 V, 3 V
I
VREF+
max
I
VREF+
I
VREF+
min
105°C
1.42
1.5
1.57
REF2_5V = 0,
2.2
I
VREF+
max
I
VREF+
I
VREF+
min
AV
CC
minimum
voltage, positive
REF2_5V = 1,
2.8
AV
CC(min)
V
built-in reference
-0.5 mA
I
VREF+
I
VREF+
min
active
REF2_5V = 1,
2.9
-1 mA
I
VREF+
I
VREF+
min
2.2 V
0.01
-0.5
Load current out of
I
VREF+
mA
V
REF+
terminal
3 V
0.01
-1
I
VREF+
= 500 µA ± 100 µA,
2.2 V
±2
Analog input voltage
0.75 V,
LSB
Load-current
3 V
±2
REF2_5V = 0
I
L(VREF)+
regulation, V
REF+
I
VREF+
= 500 µA ± 100 µA,
terminal
(1)
Analog input voltage
1.25 V,
3 V
±2
LSB
REF2_5V = 1
Load current
I
VREF+
= 100 µA
900 µA,
I
DL(VREF) +
regulation, V
REF+
C
VREF+
= 5 µF, ax
0.5 × V
REF+
,
3 V
20
ns
terminal
(2)
Error of conversion result
1 LSB
Capacitance at pin
REFON = 1,
C
VREF+
2.2 V, 3 V
5
10
µF
V
REF+
(3)
0 mA
I
VREF+
I
VREF+
max
Temperature
I
VREF+
is a constant in the range of
T
REF+
coefficient of built-in
2.2 V, 3 V
±100
ppm/°C
0 mA
I
VREF+
1 mA
reference
(2)
Settle time of
internal reference
I
VREF+
= 0.5 mA, C
VREF+
= 10 µF,
t
REFON
2.2 V
17
ms
voltage (see
V
REF+
= 1.5 V, V
AVCC
= 2.2 V
)
(4) (2)
(1)
Not production tested, limits characterized.
(2)
Not production tested, limits verified by design.
(3)
The internal buffer operational amplifier and the accuracy specifications require an external capacitor. All INL and DNL tests uses two
capacitors between pins V
REF+
and AV
SS
and V
REF-
/V
eREF-
and AV
SS
: 10 µF tantalum and 100 nF ceramic.
(4)
The condition is that the error in a conversion started after t
REFON
is less than ±0.5 LSB. The settling time depends on the external
capacitive load.
Figure 38. Typical Settling Time of Internal Reference t
REFON
vs External Capacitor on V
REF+
Copyright © 2007–2012, Texas Instruments Incorporated
63