Extech Layer-thickness tester, paint-coat measurement CG204 数据表

CG204-EU-NL  V2.1   3/11 

10 

De fysieke aard van gestaalstraalde oppervlakken resulteert in hogere dan normale 
metingen van de laagdikte. De gemiddelde dikte over de pieken kan als volgt worden 
bepaald: 

1.  De meter moet conform de kalibratierichtlijnen worden gekalibreerd. Gebruik een glad 

kalibratiemonster met dezelfde krommingsradius en hetzelfde substraat als het te 
testen apparaat. 

2.  Voer circa 10 metingen op het niet bekleed, gestaalstraalde monster uit om de 

gemiddelde waarde Xo te krijgen. 

3.  Voer nogmaals 10 metingen op het niet bekleed, gestaalstraalde monster uit om de 

gemiddelde waarde Xm te krijgen. 

4.  Het verschil tussen de twee gemiddelde waarden is de gemiddelde laagdikte Xeff over 

de pieken. De grotere standaardafwijking ‘S’ van de twee waarden Xm en Xo moet 
ook in overweging worden genomen: Xeff = (Xm - Xo) ±S 

OPMERKING: Voor lagen dikker dan 300 

µm is de invloed van de ruwheid over het 

algemeen niet van belang en daarom is het niet nodig om bovenstaande 
kalibratiemethodes uit te voeren.