Acer Intel Celeron G530 KC.53001.CDG Benutzerhandbuch

Produktcode
KC.53001.CDG
Seite von 102
18
 
Intel
®
 Celeron
®
 Processor on 0.13 Micron Process in the 478-Pin Package
 Datasheet
Electrical Specifications
2.5
Reserved, Unused Pins, and TESTHI[12:0]
All RESERVED pins must remain unconnected. Connection of these pins to VCC, VSS, or to any 
other signal (including each other) can result in component malfunction or incompatibility with 
future processors. See 
 for a processor pin listing, and the location of all RESERVED 
pins.
For reliable operation, always connect unused inputs or bidirectional signals that are not terminated 
on the die to an appropriate signal level. Note that on-die termination has been included on the 
Celeron processor on 0.13 micron process to allow signals to be terminated within the processor 
silicon. Unused active low AGTL+ inputs may be left as no connects if AGTL+ termination is 
provided on the processor silicon. 
 lists details on AGTL+ signals that do not include on-die 
termination. Unused active high inputs should be connected through a resistor to ground (VSS). 
Refer to the appropriate platform design guide in 
 for the appropriate resistor values. 
Unused outputs can be left unconnected. However, this may interfere with some TAP functions, 
may complicate debug probing, and may prevent boundary scan testing. A resistor must be used 
when tying bidirectional signals to power or ground. When tying any signal to power or ground, a 
resistor will allow for system testability. For unused AGTL+ input or I/O signals that do not have 
on-die termination, use pull-up resistors of the same value in place of the on-die termination 
resistors (R
TT
The TAP, Asynchronous GTL+ inputs, and Asynchronous GTL+ outputs do not include on-die 
termination. Inputs and used outputs must be terminated on the system board. Unused outputs can 
be terminated on the system board or can be left unconnected. Signal termination for these signal 
types is discussed in the appropriate Platform Design Guide listed in 
, and the 
ITP700 Debug Port Design Guide.
The TESTHI pins should be tied to the processor VCC using a matched resistor with a resistance 
value within ± 20% of the impedance of the board transmission line traces. For example, if the 
trace impedance is 50 
Ω
, then a value between 40 
Ω
 and 60 
Ω
 is required.
The TESTHI pins may use individual pull-up resistors, or may be grouped together as follows. A 
matched resistor should be used for each group:
1. TESTHI[1:0]
2. TESTHI[5:2]
3. TESTHI[10:8]
4. TESTHI[12:11]
Additionally, if the ITPCLKOUT[1:0] pins are not used (refer to 
), they can be 
connected individually to VCC
 
using matched resistors, or can be grouped with TESTHI[5:2] with 
a single matched resistor. If they are being used, individual termination with 1 k
Ω
 resistors is 
required. Tying ITPCLKOUT[1:0] directly to VCC or sharing a pull-up resistor to VCC will 
prevent use of debug interposers. This implementation is strongly discouraged for system boards 
that do not implement an inboard debug port.
As an alternative, group2 (TESTHI[5:2]), and the ITPCLKOUT[1:0] pins may be tied directly to 
the processor VCC
This has no impact on system functionality. TESTHI[0] and TESTHI[12] may 
also be tied directly to the processor VCC if resistor termination is a problem, but matched resistor 
termination is recommended. In the case of the ITPCLKOUT[1:0] pins, a direct tie to VCC is 
strongly discouraged for system boards that do not implement an onboard debug port.