Texas Instruments Single 8 MHz Low Power CMOS, EMI Hardened Operational Amplifier, Evaluation module LMV851EVAL/NOPB LMV851EVAL/NOPB Datenbogen

Produktcode
LMV851EVAL/NOPB
Seite von 13
+
-
C
4
10 
P
F
V
DD
V
SS
OUT
R
2
50
:
RFin V
SS
C
2
22 pF
R
1
50
:
+
L
1
P
H
L
2
P
H
C
1
100 pF
C
3
100 pF
RFin V
DD
C
5
100 pF
Remove when
RF on V
DD
C
6
10 
P
F
+
C
7
100 pF
Remove when
RF on V
SS
+
-
R
3
R
1
1 k
:
50
:
RFin
C
6
220 pF
C
3
100 pF
100 pF
V
DD
V
SS
OUT
R
2
1 k
:
22 pF
C
1
C
4
+
10 µF
C
2
+
10 µF
C
5
EMIRR Measurement
Figure 4. Coupling the RF Signal to the IN
Pin Circuit Diagram
4.4.4
Test #3 and #4: Coupling an RF Signal to the Supply Pins
For coupling an RF signal to the supply pins, the op amp can again be connected in the unity gain
configuration. A single PCB can serve for measuring the EMIRR for both supply pins, V
DD
and V
SS
.
depicts the schematic. On this PCB both RF signal paths from the RF injection point to a supply
pin should be a 50
Ω
stripline with a 50
Ω
termination. It is important to remove the decoupling capacitor on
the pin that is under test. Thus, when injecting an RF signal on the V
DD
pin, capacitor C
4
and C
5
should be
removed, while capacitor C
6
and C
7
should be removed when injecting an RF signal on the V
SS
pin. The
inductors L
1
and L
2
are used to isolate the power supply sources from the RF signal. This prevents the
sources from detecting the RF signal that might deteriorate the measurement accuracy.
Figure 5. Coupling an RF Signal to Either of the Supply Pins Circuit Diagram
7
SNOA497B – September 2007 – Revised April 2013
AN-1698 A Specification for EMI Hardened Operational Amplifiers
Copyright © 2007–2013, Texas Instruments Incorporated