Texas Instruments Development Kit for TM4C129x,Tiva™ ARM® Cortex™ -M4 Microcontroller DK-TM4C129X DK-TM4C129X Datenbogen

mA

88

-

-

Cumulative maximum GPIO current per side, top

b

I

MAXT

a. Based on design simulations, not tested in production.

b. Sum of sink and source current for GPIOs as shown in Table 32-10 on page 2105.

PB[6-7], PC[4-7], PD[0-3], PE[0-3], PH[0-7], PJ[6-7], PK[0-3], PQ[0-3,7], PR[0-5]

Left

PA[0-7], PF[0-7], PG[0-7], PK[4-7], PN[6-7], PR[3,6-7], PQ[5-6], PS[4-7], PT[0-1]

Bottom

PB[0-3], PJ[2-5], PL[0-5,6-7], PM[0-7], PT[2-3]

Right

PB[4-5], PC[0-3], PD[4-7], PE[4-7], PJ[0-1], PN[0-5],PP[0-7], PQ[4], PS[0-3],

Top

For typical continuous drive applications, I/O pins configured between 2 mA and 12 mA and operating
at -40 to 85°C, meet the standard 10-year lifetime reliability. If a continuous current sink of 18 mA
is required, then operation is limited to 0 to 75°C in order to meet the standard 10-year reliability.

At 105°C, I/O configured for continuous drive meet the standard 2.5 year lifetime reliability.

In typical switching applications (40% switch rate) operating at -40 to 85°C, all I/O configurations
except 2 mA meet the standard 10-year lifetime reliability with 50-pF loading. By limiting the capacitive
loading to 20 pF for an I/O configured to 2 mA, the 10-year lifetime reliability can be met at -40 to
85°C.

In typical switching applications (40% switch rate) operating at 105°C, all I/O configurations except
2 mA meet the standard 2.5-year lifetime reliability. By reducing the capacitive loading to 20 pF with
a typical switching rate at 105°C, a 2-mA I/O configuration meets a 2.5 year lifetime reliability.

Table 32-11 on page 2105 contains the load conditions used for timing measurements.

C

L

GND

pin

25 pF

LCDDATA[23:0]