Texas Instruments CC2650DK Benutzerhandbuch

Seite von 1570
Factory Configuration (FCFG)
9.2.1.49 TRIM_CAL_REVISION Register (Offset = 314h) [reset = 0h]
TRIM_CAL_REVISION is shown in
and described in
Production Test Trim and Calibration Revision
Figure 9-70. TRIM_CAL_REVISION Register
31 30 29 28 27 26 25 24 23 22 21 20 19 18 17 16 15 14 13 12 11 10
9
8
7
6
5
4
3
2
1
0
FT1
MP1
R-0h
R-0h
Table 9-72. TRIM_CAL_REVISION Register Field Descriptions
Bit
Field
Type
Reset
Description
31-16
FT1
R
0h
The revision of the ATE Trim&Calc document used in FT1 in
production
Reset holds log information from production test.
15-0
MP1
R
0h
The revision of the ATE Trim&Calc document used in MP1 in
production
Reset holds log information from production test.
766
Device Configuration
SWCU117A – February 2015 – Revised March 2015
Copyright © 2015, Texas Instruments Incorporated