Texas Instruments IC MCU 16B MSP430F2410TRGCT VQFN-64 TID MSP430F2410TRGCT Datenbogen

SLAS547I – JUNE 2007 – REVISED DECEMBER 2012

P6.1

60

I/O

General-purpose digital I/O

P6.2

61

I/O

General-purpose digital I/O

P6.3

2

I/O

General-purpose digital I/O

P6.4

3

I/O

General-purpose digital I/O

P6.5

4

I/O

General-purpose digital I/O

P6.6

5

I/O

General-purpose digital I/O

P6.7/SVSIN

6

I/O

General-purpose digital I/O / SVS input

XT2OUT

52

O

Output terminal of crystal oscillator XT2

XT2IN

53

I

Input port for crystal oscillator XT2

RST/NMI

58

I

Reset input, nonmaskable interrupt input, or bootstrap loader start (in flash devices).

TCK

57

I

Test clock (JTAG). TCK is the clock input for device programming test and bootstrap loader start.

TDI/TCLK

55

I

Test data input or test clock input. The device protection fuse is connected to TDI/TCLK.

TDO/TDI

54

I/O

Test data output. TDO/TDI data output or programming data input terminal.

TMS

56

I

Test mode select. TMS is used as an input port for device programming and test.

DV

SS

10

I

Connected to DV

SS

Reserved

7

O

Reserved, do not connect externally

DV

SS

11

I

Connected to DV

SS

XIN

8

I

Input for crystal oscillator XT1. Standard or watch crystals can be connected.

XOUT

9

O

Output for crystal oscillator XT1. Standard or watch crystals can be connected.

QFN Pad

NA

NA

QFN package pad connection to DV

SS

recommended (RGC package only)

14

Copyright © 2007–2012, Texas Instruments Incorporated