Lucent Technologies R5SI User Manual

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DEFINITY Enterprise Communications Server Release 5
Maintenance and Test for R5vs/si  
555-230-123  
Issue 1
April 1997
Maintenance Object Repair Procedures 
Page 10-241
CAP-MEM (Memory Card Capacity) 
10
Notes:
a. Refer to 12V-PWR (12 Volt Power Supply) Maintenance documentation for 
a description of this test.
b. Refer to CARD-MEM (Memory Card) Maintenance documentation for a 
description of this test.
Memory Card Capacity Test (#1014)
This test is a nondestructive test. The purpose of the test is to verify that the 
percentage of translation storage space used in the memory card is less than 
98%.
This test can be initiated through a system technician demanded 
test card-mem 
long
 command, or it can be executed as part of a maintenance test sequence 
after the 
save translation
 operation.
1.
D = Destructive; ND = Nondestructive
Order of Investigation
Short Test 
Sequence
Long Test 
Sequence
D/ND
1
12 Volt Power Supply Test (#701) (a)
X
X
ND
Memory Card Insertion Test (#695) (b)
X
X
ND
Memory Card Format and Read Test (#696) (b)
X
X
ND
Memory Card Match Test (#697) (b)
X
X
ND
Memory Card Write-Protected Test (#698) (b)
X
X
ND
Memory Card Directory Recovery Test (#699) (b)
X
X
ND
Memory Card Translation Data Integrity Test (#694) (b)
X
ND
Memory Card Erase/Write/Read Test (#693) (b)
X
ND
Memory Card Capacity Test (#1014)
X
ND