Lucent Technologies R5SI User Manual

Issue 1

April 1997

Maintenance Object Repair Procedures 

Page 10-612

DUPINT (Duplication Interface Circuit Pack) 

Notes:

a. When running the Long Test Sequence on Duplication Interface circuit 

pack A, the results of Test #273 may overwrite the results of Test #274.

b. Refer to “SHDW-CIR” (Common Shadow Circuit) for a description of this 

test.

c. Refer to “SPE-SELEC” (SPE Select Switch) for a description of this test.

This test queries the Duplication Interface circuit pack for the results of its 
background tests. The response indicates the results of the last time the 
following background tests were run:

■

ROM Checksum Test: This test verifies the correctness of the Duplication 
Interface circuit pack firmware.

■

RAM Test: This tests verifies that the RAM on the Duplication Interface 
circuit pack is functioning properly.

1.

D = Destructive; ND = Nondestructive

Duplication Interface Circuit Pack Sanity Maze Test (#277)

X

X

ND

Duplication Interface Circuit Pack SPE A Loop Back Test 
(#275)

X

X

ND

Duplication Interface Circuit Pack SPE B Loop Back Test 
(#276)

X

X

ND

Duplication Interface Circuit Pack Administration Terminal 
Loop Back Test (#274)(a)

X

X

ND

Inter-Duplication Interface Circuit Pack Loop Back Test (#280)

X

X

ND

Duplication Interface Circuit Pack Background Test Query 
Test (#271)

X

X

ND

Duplication Interface Circuit Pack Invalid Message Query Test 
(#272)

X

X

ND

Common Shadow Circuit M-BUS Time-out Query Test (#285) 
(b)

X

ND

Common Shadow Circuit Loop Back Test (#283) (b)

X

X

ND

Common Shadow Circuit Address Decoder Test (#284) (b)

X

X

ND

SPE Select Switch Query Test (#278) (c)

X

ND