Lucent Technologies R5SI User Manual

Issue 1

April 1997

Maintenance Object Repair Procedures 

Page 10-616

DUPINT (Duplication Interface Circuit Pack) 

This test loops back data through the UART used to communicate with 
administration terminal. The data is generated by the Duplication Interface circuit 
pack processor and is looped through the UART. The test is done entirely on the 
Duplication Interface circuit pack. The test passes if the data sent matches the 
data received. This test does not check the physical serial channel that is printed 
on the backplane or carried by the ICC.

2052

ABORT

Only occurs when attempting to reset Duplication Interface A. If SPE B is 
not in Standby Mode, ready to take over, then this test aborts.

1. Resolve all “STBY-SPE” errors and alarms.

2. Use 

 command to place SPE B in Standby Mode.

3. Repeat the test.

2000

FAIL

The software timed out waiting for Duplication Interface circuit pack to 
respond to the background test query.

1. Rerun the test.

2. If the test fails with a 2000 again, then deal with the Duplication 

Interface Circuit Pack Status Query Test (#315) results first.

FAIL

The sanity timer circuit on the Duplication Interface circuit pack is 
defective. The Duplication Interface circuit pack should be replaced.

1. Follow the procedure for replacing Common Control circuit packs, and 

replace the Duplication Interface circuit pack.

2. Rerun the test.

NO 
BOARD

The Duplication Interface circuit pack has failed to handshake with either 
the active Maintenance/Tape Processor (in the case of Duplication 
Interface circuit pack A) or the Duplication Interface circuit pack A (in the 
case of Duplication Interface circuit pack B).

1. Refer to NO BOARD description for the Duplication Interface Circuit 

Pack Status Query Test (#315).

PASS

The Duplication Interface circuit pack successfully reset. The Duplication 
Interface circuit pack may still have problems related to any of the other 
Duplication Interface circuit pack tests. Follow up on any other test failures.