Lucent Technologies R5SI User Manual

Issue 1

April 1997

Maintenance Object Repair Procedures 

Page 10-720

FL-DATA (Flash Data Consistency) 

a. The Aux Data field records which SPE was active at the time the Flash 

Data Consistency Test failed. An "8" in the log refers to carrier A and a "16" 
refers to carrier B.

Always investigate tests in the order presented in the table below. By clearing 
error codes associated with the 

Memory Card Insertion Test,

 for example, you 

may also clear errors generated from other tests in the testing sequence.

1.

Run the Short Test Sequence first. If all tests pass, run the Long Test Sequence. Refer to the 
appropriate test description and follow the recommended procedures.

1.

D = Destructive; ND = Nondestructive

292, 
324,

388, 
420,

452

12 Volt Power Supply Test (#701) (b)

X

X

ND

Memory Card Insertion Test (#695) (a)

X

X

ND

Memory Card Format and Read Test (#696) (a)

X

X

ND

Memory Card Match Test (#697) (a)

X

X

ND

Memory Card Write-Protected Test (#698) (a)

X

X

ND

Memory Card Directory Recovery Test (#699) (a)

X

X

ND

Memory Card Translation Data Integrity Test (#694) (a)

X

ND

Memory Card Erase/Write/Read Test (#693) (a)

X

ND

Flash Data Consistency Test (#421) (c)

X

ND