Lucent Technologies R5SI User Manual

Issue 1

April 1997

Maintenance Object Repair Procedures 

Page 10-14

AC-POWER 

Notes:

a. Refer to "POWER" for a description of this test.

b. Refer to "CARR-POW" for a description of this test.

c. Refer to "EMG-XFER” for a description of this test.

d. Refer to "CABINET" for a description of this test.

e. Refer to "EXT-DEV ADMIN? N” or "EXT-DEV ADMIN? Y" for a description of 

this test.

f. Refer to "RING-GEN" for a description of this test.

This test queries the Maintenance/Tape Processor in a PPN in a system without 
High or Critical Reliability, the Duplication Interface circuit pack in a High or 
Critical Reliability system PPN, or the EPN Maintenance circuit pack in an EPN 
multicarrier cabinet system for the status of AC power to the switch. In a 
DC-powered system, this test should never fail.

1.

D = Destructive, ND = Non-destructive

Power Unit Query Test (carrier C) (#127) (b)

X

X

ND

Emergency Transfer Query Test (#124) (c)

X

X

ND

Cabinet Temperature Query Test (#122) (d)

X

X

ND

External Alarm Lead Query Test (#120) (e)

X

X

ND

Analog Ring Generator Initialization Test (#117) (f)

X

X

ND

Analog Ring Generator Query Test (#118) (f)

X

X

ND