Fujitsu FR81S User Manual

CHAPTER 29: RTC/WDT1 CALIBRATION 

 

5. Operation 

 

FUJITSU SEMICONDUCTOR LIMITED 

CHAPTER : RTC/WDT1 CALIBRATION 

FUJITSU SEMICONDUCTOR CONFIDENTIAL 

17 

This section shows measurement of errors in the CR clock. 

The procedure for measuring errors in the CR clock is as follows: 

1.  Setting CUTD1   

2.  Setting CUCR1.INTEN 

3.  Setting CUCR0.STRT 

4.  Loop waiting for interrupt 

5.  Occurrence of interrupt 

6.  Reading CUTR1 

7.  Comparison of CUTR1 and CUTD1 can be used to calculate the ratio between the main clock 

frequency and the sub clock frequency. 

MN705-00010-1v0-E

1086