Microchip Technology ARD00354 Data Sheet

© 2011 Microchip Technology Inc.

DS25073A-page 9

1.4.1

INPUT OFFSET TEST CIRCUIT

 is used for testing the INA’s input offset

errors and input voltage range (V

E

, V

IVL

 and V

IVH

; see

 and

). U

2

 is part of a control loop that forces V

OUT

to equal V

CNT

; U

1

 can be set to any bias point.

When MCP6N11 is in its normal range of operation, the
DC output voltages are (where V

E

 is the sum of input

offset errors and g

E

 is the gain error):

 gives the recommended R

F

 and R

G

 values

for different G

MIN

 options.

1.4.2

DIFFERENTIAL GAIN TEST CIRCUIT

 is used for testing the INA’s differential gain

error, non-linearity and input voltage range (g

E

, INL

DM

,

V

DML

 and V

DMH

; see 

). R

F

 and R

G

 are 0.01% for

accurate gain error measurements.

The output voltages are (where V

E

 is the sum of input

offset errors and g

E

 is the gain error):

To keep V

REF

, V

FG

 and V

OUT

 within their ranges, set:

 shows the recommended R

F

 and R

G

. They

produce a 10 k

Ω load; V

L

 can usually be left open.

Ω)

Ω)

1

100k

499

201.4

0.60

2.5

2

0.40

5.0

5

100k

100

1001

0.85

2.5

10

0.50

5.0

100

0.35

35

R

L

V

CM

100 nF

V

DD

2.2 µF

V

REF

V

L

12.7 k

Ω

V

M

100 nF

C

CNT

U

1

U

2

V

CNT

63.4 k

Ω

R

G

R

F

R

CNT

63.4 k

Ω

V

OUT

10 nF

1 k

Ω

1 k

Ω

⁄

(

)V

Ω)

Ω)

1

0

Open

1.000

2

4.99k

4.99k

2.000

5

8.06k

2.00k

5.030

10

9.09k

1.00k

10.09

100

10.0k

100

101.0

R

L

6.34 k

Ω

1 k

Ω

1 k

Ω

V

CM

+ V

DM

/2

+

100 nF

V

OUT

R

F

R

G

V

M

–

100 nF

V

DD

2.2 µF

6.34 k

Ω

V

REF

V

FG

V

L

V

CM

– V

DM

/2

0.01%

0.01%

U

1

⁄

–

(

) V

(

)

(

) V

(

)

–

(

) 2

⁄