STMicroelectronics Evaluation board for STM32L1 series - with STM32L152ZD MCU STM32L152D-EVAL STM32L152D-EVAL Data Sheet

Doc ID 18141 Rev 2

13/42

Three I/Os are used to implement a comparator feature as shown in 

.

●

Comparator non-inverting input PB4 connected to LDR (R34).

●

Comparator inverting input PB3 connected to potentiometer (RV3) used as variable 
threshold input for comparison to luminosity measured on LDR.

●

Comparator non-inverting input PB5 connected to potentiometer (RV3) used as 
analogue voltage input for comparison with internal voltage reference (for instance 
Band gap) in order to test analogue Wakeup feature of the MCU.

Jumper JP17 allows 3 different usages of the potentiometer as shown in 

.

         

"AND

!$#?).

'0#/-0?).

'0#/-0?).

'0#/-0?).

'.$

'.$

6$$

0"

0"

0"

0"

'0

)#!0

,$2?/54

,$2

26

6$$

*0

-36

JP17

Potentiometer RV3 is connected to ADC input PB12. Used as ADC input when JP17 is set 
as shown (default setting).

Potentiometer RV3 used as LDR variable threshold. Input is connected to comparator 
inverting input GPCOMP_IN- (PB3) when JP17 is set as shown.

Potentiometer RV3 is connected to non-inverting input GPCOMP_IN+(PB5). 
The comparator inverting input can be connected to ¼ band gap, ½ band gap, band gap or 
DAC internally to test MCU wakeup possibility when an external voltage reaches a 
programmable threshold when JP17 is set as shown.

JP10

PB4 is connected to JTAG connector CN9 (TRST) when JP10 is set as shown (default 
setting).

PB4 is connected to LDR when JP10 is set as shown.

PB12
PB3
PB5

PB12
PB3
PB5

PB12
PB3
PB5

3

2

1

3

2

1