Lucent Technologies lucent ユーザーズマニュアル

Issue 1

August 1997

Maintenance Object Repair Procedures 

Page 10-869

M/T-ANL (Maintenance/Test Analog Port) 

This test is a modification of the Voice and Control Channel Local Loop Test used 
by Digital Station (DIG-LINE) maintenance. This test does not perform the control 
channel and secondary information channel loop around tests as described for 
DIG-LINE, as these data paths do not exist for the Maintenance/Test Analog Port. 
The primary information channel is tested by first looping back the data channel 
onto the TDM Bus, and then sending a digital count from the Tone-Clock circuit 
pack and receiving the same digital count with a general purpose tone detector. 
A conference test is done next for the primary information channel. This test is the 
same as Conference Test (#6).

Only one value (Pass, Fail, or Abort) is generated as a result of the two tests. If 
either fails or aborts, the sequence is stopped

2000

ABORT

Response to the test request was not received within the allowable time 
period.

1. Retry the command at 1 minute intervals a maximum of 3 times.

2. If the test continues to abort, escalate the problem.

2100

ABORT

System resources required to run this test are not available.

1. Retry the command at 1 minute intervals a maximum of 3 times.

2. If the test continues to abort, escalate the problem.

Any

FAIL

The NPE of the tested port was found to be transmitting in error. This will 
cause noisy and unreliable connections.

1. If the remaining ports are currently not in use (yellow LED is off), try to 

reset the circuit pack via the 

, 

, 

 command sequence. Then repeat the 

test.

2. If the test fails again, replace circuit pack.

PASS

The port is correctly using its allocated time slots. User-reported troubles 
on this port should be investigated by examining station, trunk, or external 
wiring.