Texas Instruments SRC4382 Evaluation Module (EVM) and USB motherboard SRC4382EVM-PDK SRC4382EVM-PDK データシート

SBFS030C – JANUARY 2006 – REVISED SEPTEMBER 2007

This integrated circuit can be damaged by ESD. Texas Instruments recommends that all integrated circuits be handled with
appropriate precautions. Failure to observe proper handling and installation procedures can cause damage.

ESD damage can range from subtle performance degradation to complete device failure. Precision integrated circuits may be more
susceptible to damage because very small parametric changes could cause the device not to meet its published specifications.

SRC4382IPFBT

Tape and Reel, 250

SRC4382

TQFP-48

PFB

–40C to +85C

SRC4382I

SRC4382IPFBR

Tape and Reel, 2000

(1)

For the most current package and ordering information see the Package Option Addendum at the end of this document, or see the TI
web site at

Power Supplies

VDD18

–0.3V to +2.0V

VDD33

–0.3V to +4.0V

VIO

–0.3V to +4.0V

VCC

–0.3V to +4.0V

Digital Input Voltage: Digital Logic

RXCKI, MUTE, CPM, CS, CCLK, CDIN, CDOUT, INT, RST, MCLK, BLS, SYNC, BCKA,

–0.3V to (VIO + 0.3V)

BCKB, LRCKA, LRCKB, SDINA, SDINB

Line Receiver Input Voltage (per pin)

RX1+, RX1–, RX2+, RX2–, RX3+, RX3–, RX4+, RX4–

(VDD33 + 0.3) V

PP

Input Current (all pins except power and ground)

10mA

Ambient Operating Temperature

–40C to +85C

Storage Temperature

–65C to +150C

(1)

These limits are stress ratings only. Stresses beyond these limits may result in permanent damage. Extended exposure to absolute
maximum ratings may degrade device reliability. Normal operation or performance at or beyond these limits is not specified or ensured.

Copyright © 2006–2007, Texas Instruments Incorporated

3

Product Folder Link(s):