Intel P3700 사용자 설명서

다운로드
페이지 47
 
Intel® Solid-State Drive DC P3700 Series 
 
Product Specification 
 
May 2015 
16 
 
330566-009US 
2.6  Reliability Specifications 
Intel SSD DC P3700 Series meets or exceeds SSD endurance and data retention requirements as specified in the 
JESD218 standard. Reliability specifications are listed in the following table. 
Table 15:  Reliability Specifications 
Parameter 
Value 
Uncorrectable Bit Error Rate (UBER) 
 
Uncorrectable bit error rate will not exceed one sector in the 
specified number of bits read. In the unlikely event of a non-
recoverable read error, the SSD will report it as a read failure to the 
host; the sector in error is considered corrupt and is not returned to 
the host. 
< 1 sector per 10
17
 bits read 
Mean Time Between Failures (MTBF) 
 
Mean Time Between Failures is estimated based on Telcordia* 
methodology and demonstrated through Reliability Demonstration 
Test (RDT). 
2 million hours 
Data Retention 
 
The time period for retaining data in the NAND at maximum 
rated endurance. 
3 months power-off retention once SSD 
reaches rated write endurance at 40° C 
Endurance Rating 
 
 
The number of drive writes such that the SSD meets the 
requirements according to the JESD218 standard. Endurance rating 
verification is defined to establish UBER <1E-16 at 60% upper 
confidence limit. 
400GB: 7.3 PBW 
800GB: 14.6 PBW 
(10 drive writes/day*) 
1.6TB: 43.8 PBW 
(15 drive writes/day*) 
2.0TB: 62.05 PBW 
(17 drive writes/day*) 
Note:  Petabytes Written (PBW). Refer to JESD218 standard table 1 for UBER, FFR and other Enterprise SSD 
requirements. 
2.7  Temperature Sensor 
P3700 Series has an internal temperature sensor with an accuracy of +/-2° C over a range of -10° C to +85° C which 
can be monitored using NVMe Health Log. 
For more information on sensor reading see SMART attributes section. In addition, drive will provide out of band 
access to temperature by means of SMBUS. The sensor has an accuracy of +/- 3° C over a range of -20° C to 125° C. 
SMBUS temperature sensor will not be reported in NVMe Health Log. 
2.8  Power Loss Capacitor Test 
P3700 Series supports testing of the power loss capacitor, which can be monitored using SMART attribute critical 
warning in log page identifier 02h, byte 0, bit 4.