Agilent Technologies 85225F Manual Do Utilizador

 

S- parameter device characterization is provided by the RF subsystem. 

The RF subsystem contains the Agilent E8364B PNA Series vector network 
analyzer. 

Its integrated synthesizer supplies a swept or CW RF source signal from 
10 MHz

*

 to 50 GHz.

The integrated test set separates the RF source signal into reference and 
test signals, and provides RF connection via cables and adapters to the 
external bias networks.

Precision DC characterization and bias for the S- parameter measurements 
are provided by one of the following three DC subsystems.

The DC subsystem may contain one of the following three instruments.

The Agilent 4156C precision semiconductor parameter analyzer provides 
DC force (supply) and sense (measure) capability from its HRSMUs (high 
resolution source/monitor units). 

Optionally, the Agilent 4156C may be configured with a 41501B SMU PGU 
expander is connected to and controlled by the 4156C via the expander 
box interface. The 41501B provides a GNDU (active ground unit) and, 
depending on option configuration, an HPSMU (high- power source/monitor 
unit), two MPSMUs (medium- power source monitor units), and/or two 
PGUs (pulse generator units). 

The DC signals are routed through feedthrough panels via triaxial cables to 
the bias networks.

The Agilent E5260A provides DC force (supply) and sense (measure) 
capability from its plug- in source/monitor units. 

The Agilent E5290A plug- in high speed high power source/monitor unit 
provides up to 200 volts of potential and 1 amp of current to the device 
under test.

The Agilent E5291A plug- in high speed medium power source/monitor unit 
provides up to 100 volts of potential and 200 milliamps of current to the 
device under test.

* Due to the minimum operating frequency of the bias networks, the performance modeling system low end 

frequency range is 45 MHz.