Техническая Спецификация для AMD 8151

24888 Rev 3.03 - July 12, 2004

 

The IC includes the following test modes. 

In high-impedance mode, all the signals of the IC are placed into the high-impedance state. 

There are several NAND trees in the IC. Some of the inputs are differential (e.g., LR[B, A] pins); for these, the 
_P and _N pairs of signals are converted into a single signal that is part of the NAND tree, as shown in 
Signal_3 in the following diagram.

Operational

0

X

X

X

High impedance

1

0

0

0

NAND tree

1

0

0

1

 

NAND Tree Mode

to output signal 

Output signal 

…

…

Signal_41 

Signal_3_P 

Signal_2 

Signal_1 

VDD 

1

0

Signal_3_N 

+ 

-