Справочник Пользователя для Intel III Xeon 733 MHz 80526KZ733256

Модели
80526KZ733256
Скачать
Страница из 105
ELECTRICAL SPECIFICATIONS 
 
 
 
18 
A Debug Port is described in Chapter 8. The Debug Port must be placed at the start and end of the TAP chain with TDI to 
the first component coming from the Debug Port and TDO from the last component going to the Debug Port. In an MP 
system, be cautious when including an empty SC330 connector in the scan chain. All connectors in the scan chain must 
have a processor or termination card installed to complete the chain between TDI and TDO or the system must support a 
method to bypass the empty connectors. SC330 terminator substrates should tie TDI directly to TDO. (See Chapter 8 for 
more details.) 
3.9 Maximum Ratings 
 
Functional operation at the absolute maximum and minimum is not implied nor guaranteed. The processor should not 
receive a clock while subjected to these conditions. Functional operating conditions are given in the AC and DC tables. 
Extended exposure to the maximum ratings may affect device reliability. Furthermore, although the processor contains 
protective circuitry to resist damage from static electric discharge, one should always take precautions to avoid high static 
voltages or electric fields. 
 
Table 4.  Absolute Maximum Ratings 
Symbol Parameter 
Min Max 
Unit 
Notes 
T
STORAGE
 
Processor storage temperature
–40 
85 
°C 
VCC_CORE 
Supply voltage with respect to 
V
SS 
seen at the input of the 
OCVR 
–0.5 Operating 
voltage + 1.0 
V 1,2 
V
SMBus
 Any 
processor 
SM 
supply 
voltage with respect to V
SS
 
-0.3 Operating 
voltage + 1.0 
V  
V
CCTAP
 
Any processor TAP supply 
voltage with respect to V
SS
 
-0.3 3.3 
V
inGTL
 
AGTL+ buffer DC input voltage 
with respect to V
SS
 
–0.3 + 
1.65 
 
V
inCMOS
 
CMOS & APIC buffer DC input 
voltage with respect to V
SS
 
–0.3 3.3 
 
V
inSMBus
 
SMBus buffer DC input voltage 
with respect to V
SS
 
-0.1 7.0 
 
I
PWR_EN
 
Max PWR_EN[1:0] pin current 
 
100 
mA 
 
NOTES: 
1. 
Operating voltage is the voltage to which the component is designed to operate. See Table 5. 
2. 
VCC_CORE  
is the voltage input seen at the input of the OCVR device which may be 2.8V for one product version or 5V (or 12V) for 
another product version. 
3. 
Please contact Intel® for storage requirements in excess of one year. 
3.10  
Processor 
DC 
Specifications 
 
The voltage and current specifications provided in Table 5 and Table 6 are defined at the processor edge fingers. The 
processor signal DC specifications in Tables 7, 8 and 9 are defined at the processor core. Each signal trace between the 
processor edge finger and the processor core carries a small amount of current and has a finite resistance. The current 
produces a voltage drop between the processor edge finger and the core. Simulations should therefore be run versus 
these specifications to the processor core.  
 
See Chapter 1 for the processor edge finger signal definitions and Table 3 for the signal grouping. 
 
Most of the signals on the processor system bus are in the AGTL+ signal group. These signals are specified to be 
terminated to VTT. The DC specifications for these signals are listed in Table 7. 
 
To ease connection with other devices, the Clock, CMOS, APIC, SMBus and TAP signals are designed to interface at 
non-AGTL+ levels. The processor contains a voltage clamp device on the cartridge substrate between the core and edge 
fingers.  This device “clamps” the 2.5V level CMOS, TAP, and APIC signals to 1.5V levels, which helps reduce overshoot 
levels at the processor core.  All CMOS, TAP, Clock, and APIC signals interface with the voltage clamp, with the 
exception of BCLK, PICCLK and PWRGOOD
The DC specifications for these pins are listed in Table 8 and Table 9