Cisco Systems 15454M6DC 用户手册

下载
页码 458
 
8-15
Cisco ONS 15454 Installation and Operations Guide
November 2001 
Chapter 8      Performance Monitoring
Performance Monitoring for Electrical Cards
Note
SONET path PMs will not count unless IPPM is enabled. For additional information, see the 
The far-end IPPM feature is 
not supported in Software R3.1. However, SONET path PMs can be monitored by logging into the 
far-end node directly.
Table 8-2
Near-End Section PMs for the EC1 Card
Parameter
Definition
CV-S
Section Coding Violation (CV-S) is a count of BIP errors detected at the 
section-layer (i.e. using the B1 byte in the incoming SONET signal). Up 
to eight section BIP errors can be detected per STS-N frame; each error 
increments the current CV-S second register.
ES-S
Section Errored Seconds (ES-S) is a count of the number of seconds when 
at least one section-layer BIP error was detected or an SEF or loss of 
signal (LOS) defect was present.
SES-S
Section Severely Errored Seconds (SES-S) is a count of the seconds when 
K (see GR-253-CORE for value) or more section-layer BIP errors were 
detected or a severely errored frame (SEF) or LOS defect was present.
SEFS-S
Section Severely Errored Framing Seconds (SEFS-S) is a count of the 
seconds when an SEF defect was present. An SEF defect is expected 
during most seconds where an LOS or loss of frame (LOF) defect is 
present. However, there may be situations when that is not the case, and 
the SEFS-S parameter is only incremented based on the presence of the 
SEF defect.
Table 8-3
Near-End Line Layer PMs for the EC1 Card
Parameter
Definition
CV-L
Near-End Line Code Violation (CV-L) is a count of BIP errors detected at 
the line-layer (i.e. using the B2 bytes in the incoming SONET signal). Up 
to 8 x N BIP errors can be detected per STS-N frame, with each error 
incrementing the current CV-L second register.
ES-L
Near-End Line Errored Seconds (ES-L) is a count of the seconds when at 
least one line-layer BIP error was detected or an alarm indication 
signal-line (AIS-L) defect was present.
SES-L
Near-End Line Severely Errored Seconds (SES-L) is a count of the 
seconds when K (see GR-253 for values) or more line-layer BIP errors 
were detected or an AIS-L defect was present.