Lucent Technologies R5SI 用户手册

Issue 1

April 1997

Maintenance Object Repair Procedures 

Page 10-1170

PR-MEM (TN790 RISC Memory) 

This test is a nondestructive test. The test is run on a few reserved locations in 
memory. A failure of this test indicates a failure on the Processor circuit pack.

This test determines if the parity circuitry is working. Accordingly, the test 
determines if parity errors can be detected. The parity circuitry is used to detect 
DRAM memory failures.

100

ABORT

The test did not complete within the allowable time period.

1. Retry the command.

1029 2014 
2015 2016 
2017 2018 
2020 2022 
2024 2025 
2051

ABORT

Refer to STBY-SPE Maintenance documentation for a description of 
these error codes.

2500

ABORT

Internal system error

1. Retry the command.

1 - 7

FAIL

The system may or may not continue to operate correctly. The system 
may fail later when some action requires access to the corrupted area 
of the Text.

1. The Flash ROM should be reprogrammed via the 

 command. The memory card should contain the same 

vintage software that is currently in the system. Refer to the 
"Software Upgrade" section in this manual.

2. If the test continues to fail, replace the TN790 Processor circuit 

pack and repeat step 1.

PASS

The checksum is correct.