Atmel ARM-Based Evaluation Kit AT91SAM9N12-EK AT91SAM9N12-EK Data Sheet

Product codes
AT91SAM9N12-EK
Page of 248
Signal Descriptions 
A-10
Copyright © 2001-2003 ARM Limited. All rights reserved.
ARM DDI0198D
A.6
Miscellaneous signals
Table A-5 describes the miscellaneous signals on the ARM926EJ-S processor.
Table A-5 Miscellaneous signals
Name
Direction
Description
BIGENDINIT
Input
Determines the setting of the B bit in CP15 c1 after a 
system reset. When HIGH the reset state of the B bit is 1 
(big-endian). When LOW the reset state of the B bit is 0 
(little-endian).
CLK
Input
This clock times all operations of the ARM926EJ-S 
design. All outputs change from the rising edge and all 
inputs are sampled on the rising edge. The clock can be 
stretched in either phase. Through the use of the 
DHCLKEN and IHCLKEN signals, this clock also times 
AHB operations. Through the use of the DBGTCKEN 
signal, this clock also controls JTAG and debug operations.
CFGBIGEND 
ARM9EJ-S core 
endianness 
configuration
Output
This signal reflects the setting of the B bit in CP15 c1. 
When HIGH, the processor treats bytes in memory as 
being in big-endian format. When LOW, memory is treated 
as little-endian.
EXTEST
Input
EXTEST mode test signal. This signal must be LOW 
during normal operation.
INTEST
Input
INTEST mode test signal. This signal must be LOW 
during normal operation.
nFIQ
Not fast interrupt
request
Input
This is the fast interrupt request signal. This signal must be 
synchronous to CLK.
nIRQ
Not interrupt
request
Input
This is the interrupt request signal. This signal must be 
synchronous to CLK.
SCANENABLE
Input
Scan enable test signal. This signal must be LOW during 
normal operation.
STANDBYWFI
Output
When HIGH indicates that the ARM926EJ-S processor is 
in wait for interrupt mode.