Intel 2760QM FF8062701065300 User Manual

Datasheet, Volume 1

67

Notes:
1.

These are measured between V

IL

 and V

IH

.

Notes:
1.

V

TT

 refers to instantaneous V

TT

.

2.

Measured at 0.31*V

TT

3.

Vin between 0 V and V

TT

V

IL

Input Low Voltage

—

0.3*VTT

V

V

IH

Input High Voltage

0.7*VTT

—

V

V

OL

Output Low Voltage
(R

TEST

 = 500 ohm)

—

0.12*V

TT

V

V

OH

Output High Voltage
(R

TEST

 = 500 ohm)

0.88*V

TT

—

V

R

ON

Buffer On Resistance Signals BPM[7:0], TDO, 
EAR_N

—

14

I

IL

Input Leakage Current, Signals PREQ_N, TCK, 
TDI, TMS, TRST_N

-50

+50

A

I

IL

Input Leakage Current, Signals BPM_N[7:0], TDO, 
EAR_N
(R

TEST

 = 50 ohm)

—

+900

A

I

O

Output Current, Signal PRDY_N
(R

TEST

 = 500 ohm)

-1.50

+1.50

mA

Input Edge Rate
Signals: BPM_N[7:0], EAR_N, PREQ_N, TCK, TDI, 
TMS, TRST_N

0.05

—

V/ns

1

V

TT

CPU I/O Voltage 

VTT - 3%

1.05

VTT + 3%

V

V

IL

Input Low Voltage SVIDDATA, 
SVIDALERT_N

—

—

0.3*V

TT

V

1

V

IH

Input High Voltage SVIDDATA, 
SVIDALERT_N

0.7*V

TT

—

—

V

1

V

OH

Output High Voltage SVIDCLK, 
SVIDDATA

—

—

V

TT(max)

V

1

R

ON

Buffer On Resistance SVIDCLK, 
SVIDDATA

—

14

2

I

IL

Input Leakage Current, Signals 
SVIDCLK, SVIDDATA

—

—

+900

A

3

I

IL

Input Leakage Current, Signal 
SVIDALERT_N

-500

—

+500

A

3