Intel P4500 CP80617004803AA Data Sheet

78

Datasheet

TCK

TCK (Test Clock): Provides the clock input 
for the processor Test Bus (also known as 
the Test Access Port).

I

CMOS

TDI

TDI (Test Data In): Transfers serial test 
data into the processor. TDI provides the 
serial input needed for JTAG specification 
support.

I

CMOS

TDO

Test Data Output

O

CMOS

TDI_M

Test Data In for the GPU/Memory core: 
Tie TDI_M and TDO_M together on the 
motherboard

I

CMOS

TDO_M

Test Data Output from the processor 
core: Tie TDO_M and TDI_M together on the 
motherboard.

O

CMOS

TMS

TMS (Test Mode Select): A JTAG 
specification support signal used by debug 
tools.

I

CMOS

TRST#

TRST# (Test Reset) Boundary-Scan test 
reset pin

I

CMOS

TAPPWRGOOD

Power good for ITP

O

Asynchronous CMOS