Texas Instruments Development Kit for TM4C129x,Tiva™ ARM® Cortex™ -M4 Microcontroller DK-TM4C129X DK-TM4C129X 데이터 시트

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DK-TM4C129X
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페이지 2182
Note:
The following pins are configured as JTAG port pins out of reset. Refer to “General-Purpose
Input/Outputs (GPIOs)” on page 771 
for information on how to reprogram the configuration
of these pins.
Table 4-2. JTAG Port Pins State after Power-On Reset or RST assertion
Drive Value
Drive Strength
Internal Pull-Down
Internal Pull-Up
Data Direction
Pin Name
N/A
N/A
Disabled
Enabled
Input
TCK
N/A
N/A
Disabled
Enabled
Input
TMS
N/A
N/A
Disabled
Enabled
Input
TDI
High-Z
2-mA driver
Disabled
Enabled
Output
TDO
4.3.1.1
Test Clock Input (TCK)
The
TCK
pin is the clock for the JTAG module. This clock is provided so the test logic can operate
independently of any other system clocks and to ensure that multiple JTAG TAP controllers that
are daisy-chained together can synchronously communicate serial test data between components.
During normal operation,
TCK
is driven by a free-running clock with a nominal 50% duty cycle. When
necessary,
TCK
can be stopped at 0 or 1 for extended periods of time. While
TCK
is stopped at 0
or 1, the state of the TAP controller does not change and data in the JTAG Instruction and Data
Registers is not lost.
By default, the internal pull-up resistor on the
TCK
pin is enabled after reset, assuring that no clocking
occurs if the pin is not driven from an external source. The internal pull-up and pull-down resistors
can be turned off to save internal power as long as the
TCK
pin is constantly being driven by an
external source (see page 807 and page 809).
4.3.1.2
Test Mode Select (TMS)
The
TMS
pin selects the next state of the JTAG TAP controller.
TMS
is sampled on the rising edge
of
TCK
. Depending on the current TAP state and the sampled value of
TMS
, the next state may be
entered. Because the
TMS
pin is sampled on the rising edge of
TCK
, the IEEE Standard 1149.1
expects the value on
TMS
to change on the falling edge of
TCK
.
Holding
TMS
high for five consecutive
TCK
cycles drives the TAP controller state machine to the
Test-Logic-Reset state. When the TAP controller enters the Test-Logic-Reset state, the JTAG
module and associated registers are reset to their default values. This procedure should be performed
to initialize the JTAG controller. The JTAG Test Access Port state machine can be seen in its entirety
in Figure 4-2 on page 222.
By default, the internal pull-up resistor on the
TMS
pin is enabled after reset. Changes to the pull-up
resistor settings on GPIO Port C should ensure that the internal pull-up resistor remains enabled
on
PC1/TMS
; otherwise JTAG communication could be lost (see page 807).
4.3.1.3
Test Data Input (TDI)
The
TDI
pin provides a stream of serial information to the IR chain and the DR chains.
TDI
is
sampled on the rising edge of
TCK
and, depending on the current TAP state and the current
instruction, may present this data to the proper shift register chain. Because the
TDI
pin is sampled
on the rising edge of
TCK
, the IEEE Standard 1149.1 expects the value on
TDI
to change on the
falling edge of
TCK
.
By default, the internal pull-up resistor on the
TDI
pin is enabled after reset. Changes to the pull-up
resistor settings on GPIO Port C should ensure that the internal pull-up resistor remains enabled
on
PC2/TDI
; otherwise JTAG communication could be lost (see page 807).
December 13, 2013
220
Texas Instruments-Advance Information
JTAG Interface