Texas Instruments TLK10002SMAEVM Evaluation Module TLK10002SMAEVM TLK10002SMAEVM 데이터 시트

제품 코드
TLK10002SMAEVM
다운로드
페이지 94
Test and Setup Configurations
Depending on the power down and/or GUI termination sequence followed, the USB device may need to
be RESET to allow re-enumeration to occur in future tests. When the board is powered on and the USB
connection is enumerated, the USB online LED (D4) lights. If this LED fails to light, a PC-related issue
may exist, and the PC must be restarted. The LED lights once the PC error is fixed. If the USB connection
is improperly disconnected or terminated, the USB SUSPEND light D3 lights and is an indication that the
USB connection is not properly established.
9
Test and Setup Configurations
The TLK10002EVM has an SFP+ Optical Module Cage attached directly to channel A's high-speed
signals through approximately 2 inches of trace over Rogers Low-Dielectric material. Channel B
s
high-speed signals are attached to Edge Launch SMA connectors with 0.1-
µ
F ac coupling capacitors on
the RX lines, and 0-
Ω
resistors on the TX lines to facilitate an external loopback configuration with only a
single set of capacitors in line. The capacitors or resistors must be carefully reworked as necessary to
facilitate the test needs during evaluation. Placing two 0.1-
µ
F ac coupling capacitors can result in lower
performance and greater numbers of bit errors.
All low-speed signals on both the RX and TX signals have 0.1-
µ
F ac coupling capacitors and are routed to
a Samtec SEAF board-to-board connector that mates with either the TLK10002EVM SMA breakout board
for use in parametric and laboratory testing, or the TLK10002EVM FPGA breakout daughterboard for
system-level evaluation.
The MDIO bus that is connected to the TLK10002 is also routed to the SEAF board-to-board connector
and can be used to interface with either the FPGA or an external system board via the post level shifter
MDIO signal header on the SMA breakout board.
9
SLLU148
May 2011
TLK10002 Dual-Channel, 10-Gbps, Multi-Rate Transceiver Evaluation Module
Copyright
©
2011, Texas Instruments Incorporated